7.7 可测性设计 7.7.5 内建自测试设计 　　LSSD技术简化了测试，但不能代替测试，内建自测试(Built-In Self-Test, 简称BIST )是在集成电路芯片内增加产生激励和做测试分析的电路，使芯片不但能完成逻辑功能，还能在外部给定测试方式命令时进行自我测试分析，并输出结果。这种结构的电路既不需要准备测试码，也不需要专门的测试设备。电路中包含有测试码生成部件、扫描测试电路和测试结果输出部件。 　　内建自测试技术应用也非常广泛，其特点是不需要外加测试向量，而由电路本身产生，测试结果（合格与不合格）也直接由电路输出。不占用过多的引脚，使用非常方便。缺点同样也是增加了相当规模的硬件开销。 　　内建自测试技术一般使用伪随机测试码。电路中的伪随机数产生器产生伪随机数测试码，加在扫描电路中。在扫描方式下输出测试结果。其测试结果不是输出全部测试结果数据，而是由数据压缩器将数据压缩后输出。数据压缩的方法采用特征分析法(Signature Analysis )。伪随机数测试码产生器、扫描电路和数据压缩器都可以用线性反馈移位寄存器 (Linear Feed Back Shift Register, 简称 LFSR )实现。 　　1.线性反馈移位寄存器LFSR