从可测性设计的目标来说，可测性设计应考虑下列三个方面的问题：
　　(1)变不可测故障为可测故障；
　　(2)测试数据生成的时间少；
　　(3)测试数据少。
　　另一方面，可测性设计本身增加了电路的复杂性：增加了硬件量，降低了电路速度，也应作为评价的标准之一。

　　目前几乎所有的大型电路都进行可测性设计。