7.7 可测性设计 　　前面各节介绍了不同的测试生成方法。但这些方法一般都有局限性，不能求出所有故障的测试，或者虽然可以求出测试，但其时间代价和存储代价令人不可忍受。随着集成电路规模的迅速膨胀，电路结构也越来越复杂，同时又受芯片管脚的限制，大量故障变得不可测。为此，人们把视线转向电路系统的设计过程。如果设计的电路容易测试，容易找到测试码，对测试和测试码生成的问题便大大简化。这就是可测性设计(Design for Test, DFT )问题。