测试是在电路产品生产出来之后进行合格性检验的最后一个重要步骤。
　　测试是要在电路的输入端施加测试向量的序列，并在输出端观察所得到的结果是否与预想的相同，从而判断电路中是否存在故障。CAD的作用在于在设计电路时给出该电路的测试码。本章着重介绍测试码自动生成的方法。
　　测试码自动生成算法主要有以D算法位代表的基于电路结构的方法和以布尔差分法为代表的基于布尔表达式的方法。它们共同的基本思想是：（1）测试码引起故障点的正常值与故障值不同，即可从输入端控制故障的值；（2）能使输出端在正常情况下与故障情况下的输出值不同，即可从输出端观察故障的存在。在这个指导原则下，研究D算法、布尔差分法等的基本方法。
　　时序电路常用迭代展开法，主要有扩展D算法。它把时序电路的不同时刻的状态转化为空间序列，从而使用D算法来解决。
　　故障模拟用来监测一个输入向量或序列是否为测试码，并计算故障覆盖率。
　　对于复杂的电路，可测性设计是解决寻找测试码遇到的困难的一种有效的常用的方法。本章介绍了可测性的基本分析方法和几种可测性设计方法。