问答题 第1题 测试的基本概念是什么？测试的过程如何进行? 故障诊断与测试是什么关系？ 第2题 什么是代表故障？测试集如何化简？ 第3题 测试码自动生成（ATPG）的基本原理是什么？有哪几种常见类型？ 第4题 故障覆盖率是什么，如何计算？ 第5题 单故障敏化法如何进行？ 第6题 如何用D算法求测试码？ 第7题 如何用布尔差分法求测试码？ 第8题 如何求多故障的测试码？ 第9题 如何用迭代展开的方法求同步时序电路的测试码？ 第10题 故障模拟的基本原理？ 第11题 可测性的概念与度量方法是什么？可测性设计有哪几种方法？ 第12题 对下图的电路画一个故障表，用8个可能的测试覆盖各种s-a-0和s-a-1故障。找出该电路的最小测试集。 第13题 对下图的电路重复习题12的要求。 第14题 考虑下图的电路。试分别求出能检测出节点w5、f和c的固定故障的测试集。 第15题 对下图的电路，找出能检测下列故障的测试：w1/0，w4/1，g/0，c/1。 第16题 假定随机选择测试w1w2w3w4=0100，1010， 0011，1111，0110来测试下图的电路。用这些测试能测单故障的百分之几？ 第17题 对习题15的图重复习题16的要求。 第18题 考虑下图的电路。是否所有单固定0故障和单固定1故障都是可测的？如果不是，说明理由。 第19题 下图的电路决定4位数据单元的奇偶性。找出测试集使其能够检测该电路所有单固定故障。 第20题 寻找一个测试集，使其能检测下图电路的所有单故障。 第21题 对习题15的图，列出能被w1w2w3w4=1100，0010和0110中的每个测试检测的所有单故障。