作为示例，下面用立方体方法求图7.8所示电路的关于f_s-a-a(α∈(0, 1))的测试集。
　　由电路结构，可得出关于输入端和故障点的覆盖C与故障点相对于输入端的函数的覆盖Ｈ：
　　　　
于是得
　　　　C₀ = φ
　　　　C₁ =
　　　　C_X =
所以
　　　　C_X = (C₁∩C₀)∪C_X＝
　　　　D = (C₀∪C₁) # C_X＝
于是得
　　　　T(f_s-a-0) = D∩H = { 1 1 1 1}
　　　　T(f_s-a-1) = D # H =
　　用立方体方法求测试的最大优点是：在用立方体进行逻辑综合和优化同时求测试码。它避免了公式运算和化简，并能得到所有可能的测试向量。