D算法对一个故障寻找一个测试向量。如果在选D立方时次序不同，有可能找出的测试向量不同。
　　在电路中存在再会聚路径时，只要在选传播D立方时也使用二维D立方或多维D立方，就可实现多路径的敏化。读者可以按照D算法步骤求图7.8 电路的测试向量。可以证明，对于任何非冗余组合电路，都可以用D算法找到测试码。
　　对于复杂电路，D算法的时间开销往往很大。为了减少失败的几率，减少回溯次数，常采用一些启发式措施：
　　(1)DF中选取离输出端较近的元件；
　　(2)CF中选取离输入端较近的元件，选取已知输入端值较多的元件；
　　(3)pdc中选取D和D一致的D立方。
　　(4)二重或多重D立方仅当需要时才引入。
　　(5)一致性操作用到pdc时选取未知信号为非D者。
　　D算法是一个经典的算法，几乎所有的测试码生成软件都采用D算法。但是D算法也存在不少问题：（1）也不是所有故障都能检测出来，（2）算法中出现大量回溯过程，致使算法运行时间较长。因此许多人在D算法的基础上又提出许多新的算法，因篇幅所限，本书不作介绍。同学们在学习时，要着重理解其基本思想。