对于不要求具体指出故障位置的故障检测来说，所要求的条件要比故障定位要弱得多。将故障诊断测试集进一步压缩，可以得到用于故障检测的测试集。
显然故障检测测试集是故障诊断测试集的一个子集。
对于表7.3，由于f5
f1
, f5f4
, f5f11
, f7f2
, f7f3
, f9f8
, f9f10
, 故可以去掉f1 , f2 , f3 , f4 , f8
, f10, f11，得表7.4。 |
表7.4
去掉被支配故障的故障表
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T1 000(0) |
T2 001(0) |
T3 010(1) |
T5 100(0) |
T6 101(1) |
T7 110(0) |
T8 111(0) |
| f5: cs-a-0 |
1 | ||||||
| f6: cs-a-1 | 1 | ||||||
| f7: ds-a-0 | 1 | ||||||
| f9: es-a-1 | 1 |
显然T1 , T2 , T7无用，可以去掉。于是得表7.5。
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表7.5 最小覆盖故障表
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T3 010(1) |
T5 100(0) |
T6 101(1) |
T8 111(0) |
| f5: cs-a-0 |
1 | |||
| f6: cs-a-1 | 1 | |||
| f7: ds-a-0 | 1 | |||
| f9: es-a-1 | 1 |
由表7.5，可得到故障检测测试集
S'= {T3 , T5 , T6, T8 }
对于集成电路, 只需要检测是否存在故障，若存在故障就是废品，因此只需要找出故障检测测试集；但对于印制电路板，则有时需要诊断故障的位置，以便修复，需要找出故障诊断测试集。寻找测试集是在电路的设计阶段进行的，即设计一个电路时要同时提供测试集。