【学习方法】　
　　在学习新知识的同时着重于理解各种算法的基本思想，在基本思想的指导下，理解各算法的内容，对举例充分理解，并用实际例子运用算法规定求出故障的测试码，加深理解，达到学习目的。

　　【学习指南】
　　寻找测试码的基本原则是：（1）测试码引起故障点的正常值与故障值不同，即可从输入端控制故障的值；（2）能使输出端在正常情况下与故障情况下的输出值不同，即可从输出端观察故障的存在。在这个指导原则下，研究D算法、布尔差分法等的基本方法。

　　【难重点】
　　1． 测试的基本概念与测试集，故障诊断的基本概念。
　　2． 单故障路径敏化法与D算法的原理和步骤。
　　3． 布尔差分法。
　　4． 多故障D算法与高阶布尔差分法。
　　5． 时序电路的迭代展开，扩展D算法。
　　6． 可测性设计的基本方法。

　　【预习思考题】
　　1. 测试的基本概念是什么？测试的过程如何进行? 故障诊断与测试是什么关系？
　　2. 什么是代表故障？测试集如何化简？
　　3. 测试码自动生成（ATPG）的基本原理是什么？有哪几种常见类型？
　　4. 单故障敏化法如何进行？
　　5. 如何用D算法求测试码？
　　6. 如何用布尔差分法求测试码？
　　7. 如何求多故障的测试码？
　　8. 如何用迭代展开的方法求同步时序电路的测试码？
　　9. 故障模拟的基本原理？
　　10. 可测性的概念与度量方法是什么？可测性设计有哪几种方法？

　　【本节知识点】
　　1． 测试与故障诊断的基本概念。
　　2． 单故障敏化法求测试码。
　　3． D算法求测试码。
　　4． 布尔差分法求测试码。
　　5． 多故障测试码生成算法。
　　6． 同步时序电路的测试码生成。
　　7． 故障模拟。
　　8． 可测性与可测性设计。