随着VLSI工艺的进步, 芯片内部元件的密度剧增, 以致几乎没有空隙允许探针插入。因此, 外部激励信号只能从输入引脚引入, 观察点只能从输出引脚引出, 这就增加了测试的难度，需要设法在外部激励信号的作用下, 把内部元件的故障"驱赶"到输出端, 以便能在输出引脚上观察到故障的存在。不幸的是, 并非每一个故障都能用这种方法在输出端表现出来。
　　对于印制电路板或部件来说, 如果在测试中发现故障, 不是简单的抛弃而是要设法维修。这就要求指出故障的位置和区域, 称为故障定位或故障诊断。
　　用于故障测试和诊断的EDA工具的主要任务是: 对于一个给定的数字系统, 能自动生成一个最小的测试集。利用该测试集应当能尽可能多地检测出该系统内的故障并指出故障的位置或区域。
　　为了能把不可测故障测试出来，同时为了减轻测试码生成的难度和减少测试码的长度，有必要在集成电路内部增加一部分用于测试的电路，这就是可测性设计。